Просвечивающий микроскоп ПЭМ-200 предназначен для исследования микроструктуры и фазового состава объектов.
Просвечивающий микроскоп ПЭМ-200 предназначен для исследования микроструктуры и фазового состава объектов.
Основные функции микроскопа
- наблюдение и фотографирование изображений объектов в широком диапазоне увеличений
- исследование объектов в режимах микро-дифракции, малоугловой дифракции, дифракции высокого разрешения
- исследование объектов при их наклоне и вращении
- режим высокого контраста для медико-биологических объектов
- автоматизированное компьютерное управление
- компьютерный анализ изображений объектов по специальным программам
- элементный анализ исследуемых объектов
| Параметры | Тип полюсного наконечника | ||
| Высокого разрешения | Большого наклона | Высокого контраста | |
| Разрешение, нм: | |||
| по кристаллической решетке | 0,14 | 0,204 | 0,34 |
| по точкам | 0,35 | 0,37 | 0,4 |
| Диапазон электронно-оптических увеличений | 50x - 1 300 000x (31 ступень) |
50x - 1 000 000x (31 ступень) |
50 - 850 000x (31 ступень) |
| Угол наклона объекта гониометром, град | ±15 | ±60 | ±15 |
| Длина дифракционной камеры: | |||
| микро дифракция, мм | 80 - 3 500 (11 ступеней) |
100 - 5 000 (11 ступеней) |
115 - 5 800 (11 ступеней) |
| малоугловая дифракция, м | 10 - 200 (10 ступеней) |
10 - 200 (10 ступеней) |
10 - 200 (10 ступеней) |
| дифракция высокого разрешения, мм | 410 | 410 | 410 |
| Параметры объективной линзы: | |||
| Ссф, мм | 1,82 | 2,28 | 2,75 |
| Схр, мм | 1,9 | 2,43 | 2,9 |
| F, мм | 2,4 | 3,1 | 3,7 |
Ускоряющее напряжение
25-125 кВ, шаг регулировки 0,05; 0,1; 1,0; 5,0 10,0; 25,0 кВ нестабильность 2 10-6 1/мин, вобблер, автоматическая компенсация токов линз и токов отклоняющих систем при изменении ускоряющего напряжения.
Конденсорный блок
Две линзы; десять ступеней регулировки диаметра электронного пучка на объекте в диапазоне от 5 мкм до 0,1 мкм; программное управление отклоняющей системой наклона и перемещения электронного пучка на объекте; независимая юстировка режимов светлого и темного поля; быстрый переход из одного режима в другой; запоминание шести положений наклона электронного пучка; держатель c тремя сменными диафрагмами; угол наклона электронного пучка на объекте ±4o; вобблер отклоняющей системы и второй конденсорной линзы.
Объективная линза
Эвцентрический гониометр с боковым вводом объекта, наклон объекта от электропривода, в держатель устанавливаются два объекта, автоматическая система шлюзования камеры объектов, три сменных полюсных наконечника: высокого разрешения, большого наклона, высокого контраста; восьмиполюсный электромагнитный стигматор с коррекцией смещения изображения при стигмировании, противозагрязняющая защита с жидким азотом, держатель с тремя сменными апертурными диафрагмами, вобблеры для юстировки магнитного центра и фокусировки изображения, фокусировка изображения с известным шагом с индикацией на дисплее компьютера, цифровая индикация положения объекта на дисплее компьютера с запоминанием координат по Х и У
Проекционная система
Четыре линзы, при изменении увеличений в диапазоне от 2000 до 500 000 крат фокусировка изображения автоматически сохраняется, поворот изображения и дифракционной картины при изменении увеличения или длины камеры отсутствует, держатель с тремя сменными селекторными диафрагмами.
Камера наблюдений
Окно для наблюдения изображения 220 280 мм, дополнительный экран для фокусировки Ж25 мм, десятикратный бинокуляр.
Система фоторегистрации
Вакуумная камера с возможностью фоторегистрации на плоскую фотопленку размером 90 65 мм (24 шт.). Автоматический фотоэкспонометр. На фото-пластине индицируется номер эксперимента и увеличение. Более подробная информация об условиях эксперимента хранится в базе данных компьютера.
Управление прибором
Микроскоп управляется от промышленного компьютера типа ADVANTECH. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS. Управление от манипулятора типа "Мышь". В память компьютера занесены методы юстировки, работа на приборе, технические характеристики и другая необходимая информация. Программное обеспечение в операционной среде WINDOWS позволяет не только управлять микроскопом, но на этом же компьютере производить анализ химического состава объектов при работе с энергодисперсионным спектрометром и анализ изображения объектов по специальным программам при работе с CCD-камерой.
Вакуумная система
Два механических пластинчато-роторных насоса для создания предварительного разрежения, один магниторазрядный насос для откачки пушки, конденсорного блока, объектива и проекционного блока, один диффузионный насос для откачки камеры наблюдений и фотокамеры.
| Площадь, кв. м. | минимум 12 |
| Высота потолка, м. | минимум 2,65 |
| Входная дверь | |
| ширина, м. | минимум 0,9 |
| высота, м. | минимум 1,8 |
| Вода | |
| расход, л/мин. | 5 |
| давление, мПа | 0,2-0,4 |
| температура, oС | 15±5 |
| кран 1/2", шт. | 1 |
| слив | 3 шланга |
| Электропитание | |
| 3-х фазная сеть переменного тока с фазным напряжением | 220±22 В |
| частота, Гц | 50±1 |
| мощность, кВА | не менее 5,5 |
| Заземляющий контур с сопротивлением | не более 4 Ом. |
| Вибрации пола не более 0,2 мм/сек в диапазоне | от 5 до 50 Гц, |
| Уровень электромагнитных полей | не более 0,2 мкТл. |
| Общая масса, кг | 1700 кг. |
Дополнительное оборудование
Электронный микроскоп ПЭМ-200 может быть оснащен (по отдельному договору) следующими дополнительными устройствами:
- системой вывода и анализа изображения (САИ) с боковым и нижним выводом изображения при помощи CCD-камеры;
- системой рентгеновского анализа (ЭДС) с полупроводниковым Si (Li) детектором;
- комплектом дифракционных приставок (КДП) для исследования объектов в режиме дифракции высокого разрешения (длина камеры 410 мм), в том числе с нагревом объекта до 8000 oС и охлаждением до минус 1200oС;
- держателем объектов с двойным наклоном (ДО-01), угол наклона объектов в держателе ±45o;
- автономной системой водяного охлаждения (АСО), поддерживающей постоянную температуру охлаждающей воды в диапазоне 16 ± 30 oС с точностью ± 10 °С;
- холодопроизводительность системы не менее 2,5 кBт.
